X射线荧光光谱法对硅砂中主要成分的检测

　　

建立了一种对硅砂中成分进行快速测定的方法。样品经过碳化钨的研磨，制成能通过200目标准筛的粉末，经1000℃灼烧2h，去除里面含有的碳以及有机物。按照特定的比例在1050℃的高频熔样炉中制成玻璃片。标准物质采用日本耐火材料技术协会系列标准物质，按照说明书800℃灼烧后，按照和样品同样的熔样方法制作玻璃标片，在XRF光谱仪中选定待测元素的2θ角以及PHD能级范围，进行测定。标准曲线制作完毕后，用国家标准物质进行检测，经检测，该方法检测精确度高，误差小，能够满足化学分析的要求，结果令人满意。该方法适用于硅质砂岩以及铸造用砂。

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