测试条件对磷酸二氢钾X射线衍射和硅粉扫描电镜测试结果影响研究

　　

X射线衍射仪和扫描电子显微镜是物质表征的两种常用手段，测试条件对表征结果有重要影响。采用氢氧化钾和磷酸反应制备磷酸二氢钾，测试不同电压（20-50kV）和电流（10-50mA）下磷酸二氢钾的X射线衍射图谱。观察50um球形硅微粉在不同电压下的扫描电子显微镜图。结果表明：X射线衍射峰强度随电流、电压的增加线性增强，并且主峰对电流、电压变化最敏感，电流、电压越大，主峰和次峰强度比越大。对于一般导电性良好的样品，低电压观察样品表面形貌，但电压过低，二次电子信号强度弱，图像不清晰；随着电压升高二次电子信号增强，样品形貌更清晰，但当电压过高时，图像立体感下降。

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